Badania Nieniszczące - Metody badań nieniszczącychBadania Nieniszczące -  Metoda RTBadania Nieniszczące -  Metoda PTBadania Nieniszczące -  Metoda MTBadania Nieniszczące -  Laboratorium NDT##end_line
Jesteś tu: » Strona główna » Metoda MT » Defektoskopy ręczne - Parker
Defektoskopy ręczne - Parker
Defektoskopy strumieniowe AC, AC/DC

Defektoskopy magnetyczne strumieniowe PARKER są odpornymi mechanicznie, wysokowydajnym przyrządami przeznaczonymi do badań magnetyczno-proszkowych zgodnie z przyjętymi normami badań nieniszczących.

Defektoskopy magnetyczne PARKER spełniają wymagania:
ASME Section V,Article 7
ASTM E709
MIL-STD-271E&F(SH)
MIL-STD-1949
ASTM E-1444
NAVSEA250-1500-1
MIL-I-6868
ASTM A275/A 275M-98

Defektoskopy magnetyczne serii B są elektromagnesami wytwarzającymi silne pole elektromagnetyczne prądu zmiennego AC, a defektoskopy serii DA są elektromagnesami wytwarzającymi silne pole elektromagnetyczne prądu zmiennego AC i prostowanego DC.
Wielkość namagnesowania jest zgodna z normami stosowanymi w badaniach magnetycznych. Do okresowego sprawdzania stosowane są płyty wzorcowe. Defektoskopy posiadają znak zgodności CE.
Defektoskopy magnetyczne PARKER spełniają wymagania udźwigu. Kontrolę wielkości strumienia magnetycznego można przeprowadzać metodą kontroli udźwigu czterech certyfikowanych płyt testowych TB-10 o masie 4,5 kg każda. Płyta testowa TB-10 posiada certyfikat odnawialny NIST. Kontrolę należy przeprowadzać okresowo co 6 miesięcy lub co jeden rok, w zależności od wymagań.

Kopie certyfikatów defektoskopów dołączamy przy zakupie.
Sprawdzania defektoskopów PARKER na atestowanych płytach można dokonać w NDT System.

Defektoskop PARKER B-300S » Defektoskop AC PARKER B-300S CE
Defektoskop strumieniowy UW-125 (do badań podwodnych » Defektoskop strumieniowy UW-125 (do badań podwodnych )
Defektoskop B-310 / Sonda konturowa PARKER B-310 MINI » Defektoskop AC Parker B-310S CE
Defektoskop PARKER DA-400S » Defektoskop AC/DC Parker DA-400S CE
Defektoskop PM-50 » Defektoskop stałomagnetyczny Parker PM-50
» Płyty testowe TB10-SP

Cykl pracy dla defektoskopów firmy Parker 
Dwie minuty "Załączony", dwie minuty "Wyłączony", czyli cykl 50%.
Cykl taki jest konieczny do utrzymania niskiej temperatury urządzenia. Jeśli defektoskop jest zbyt gorący, świadczy to o przekroczeniu czasu cyklu roboczego. Przed dalszym badaniem należy zaczekać, aż defektoskop ostygnie tak aby można go było utrzymać w gołej ręce. 

Warunki robocze 
Temperatura od 0 do 40°C. Wilgotność względna od 10 do 95 %, bez kondensacji. 

Warunki wysyłki i składowania 
Temperatura od -40 do 60°C. Wilgotność względna od 5 do 95 %. 
Drgania i wstrząsy występujące przy normalnej wysyłce i składowaniu nie powodują uszkodzeń.
» Zestawienie porównawcze defektoskopów magnetycznych

Start | O firmie | Polityka Jakości | RT | PT | MT | Laboratorium | | Biblioteka | Linki | Aktualności | Konferencje | Mapa strony | Kontakt
Baker Hughes Digital Solutions GmbHLabino MagnafluxParker


Copyright © 1991-2024 NDT System